X射线荧光分析：电镀质量控制的理想方法（下）
最新的XRF系列产品线FISCHERSCOPE XUL或XULM很小巧，可以安装和使用在生产、装运或接收区域附近，也可以在实验室中使用。Helmut Fischer集团还提供便携式手持XRF仪器。
除了X射线源外，X射线测量系统的主要组成部分是探测器。探测器的质量决定了哪些测量任务可以用一台仪器来解决。 Fischer提供三种不同类型的探测器。
比例计数管是一个充气的管子。它是一个久经考验的探测器，可用于简单的测量任务，非常适合测量带有小测量点的较厚镀层。如果样品的被激发出来的信号能很好地分离，也就是说，元素之间有很大的不同 (例如，铜基底上的锡镀层), 那么比例计数管会做得很好。
如果样品很复杂-有许多元素或特征峰严重重叠的（相邻的原子序数），那么硅探测器是首选，甚至是必需的。这里，Fischer提供带硅PIN二极管（Si-PIN）或硅漂移检测器（SDD）的型号。两者都有更好的能量分辨率，能比比例计数管提供更好的峰/背比（信噪比）响应。硅PIN是一个中档的探测器。虽然它可以用于材料分析和厚度测量，但对于较小的测量点，它需要更长的测量时间。SDD是新款的半导体探测器，具有卓越的分辨率和最佳的测量极限。它的优势在于在测量纳米级的非常薄的镀层，还能进行PPM级的材料分析。
镀液的金属含量分析
为了以明确的电镀速率和明确的成分涂覆涂层，电镀公司必须非常密切地监控其镀液的配方。例如，特别是在珠宝行业流行的金属镀层（如AuCuCd、AuCuIn、RhRu或其他）必须完全均匀地镀在整个表面上，以确保颜色均匀。
通过选配电镀液分析附件（见图3），所有Fischer XRF仪器都可以方便地进行电镀溶液分析。 首先，在专用的的测试杯里装满要分析的溶液，然后用一层薄而结实的聚脂薄膜覆盖，并用一个塑料环密封——这都是溶液分析附件的一部分。可使用不同基底的测试杯。选择正确的材料可以大大提高测量性能。溶液中的基体效应（Cl，SO4，CN）可以通过测量杯基底材料（如Mo或Ni）的荧光辐射吸收来校正。
与其他方法相比，这种溶液的XRF（X射线荧光）分析方法非常简单：样品制备非常快，唯一需要的消耗品是一小片的塑料薄膜，与其他使用气体（Ar）或纯净水的分析方法不同。
